掃描式電子顯微鏡具備明場和暗場兩種模式

掃描式電子顯微鏡是Phenom（飛納）產(chǎn)品中zui*的型號，在繼承了Phenom（飛納）*代（G1）產(chǎn)品操作方便、30秒快速成圖像、售后無憂等優(yōu)點的同時，電鏡分辨率和圖像質(zhì)量顯著提高。采用了壽命高達1500小時的新一代CeB6燈絲和分辨率更高，功能更全的光學顯微鏡，提高后的光學顯微鏡有聚焦功能，放大倍數(shù)在20-120倍之間，具備明場和暗場兩種模式。

 

　　掃描電鏡的優(yōu)點：

 

　　①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；

 

　　②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；

 

　　③試樣制備簡單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

 

　　掃描電子顯微鏡觀測電疇是通過對樣品表面預(yù)先進行化學腐蝕來實現(xiàn)的，由于不同極性的疇被腐蝕的程度不一樣，利用腐蝕劑可在鐵電體表面形成凹凸不平的區(qū)域從而可在顯微鏡中進行觀察。因此，可以將樣品表面預(yù)先進行化學腐蝕后，利用掃描電子顯微鏡圖像中的黑白襯度來判斷不同取向的電疇結(jié)構(gòu)。對不同的鐵電晶體選擇合適的腐蝕劑種類、濃度、腐蝕時間和溫度都能顯示良好的疇圖樣。掃描電子顯微鏡觀察到的PLZT材料的90°電疇。掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實現(xiàn)多種分析功能。