<u id="4xs14"><rp id="4xs14"></rp></u>
提 供 商：
復納科學儀器（上海）有限公司資料大小：
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數：
161點擊下載：
文件下載詳細介紹：
掃描電鏡（SEM）是一種用途廣泛的科學儀器，它可以根據用戶的需求提供樣品不同類型的信息。在這里我們將闡述在掃描電鏡（SEM）中產生的不同類型的電子，它們是如何被檢測出來的，以及它們可以提供的信息等。
電子顯微鏡是通過電子束來成像的。在圖1中，您可以看到電子與物質相互作用所產生的各種信號，所有這些不同類型的信號攜帶著關于樣品的不同的有用信息，由電子顯微鏡的操作人員根據需要選擇接收的信號。
例如在透射電鏡（TEM）中，正如它的名字所示，檢測到的信號是透過樣品的電子，會提供樣品內部結構的信息。在掃描電鏡（SEM）下，通常需要檢測兩種類型的信號：背散射電子（BSE）和二次電子（SE）。
圖1：電子與物質相互作用區域，產生不同類型的信號
傳真：
地址：上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網 GoogleSitemap
