某些樣品很難成像。有時(shí)即使前期使用的制樣方法，也不能幫助你得到想要的結(jié)果。樣品表面粗糙度和表面特征可能會(huì)將你感興趣的特定區(qū)域覆蓋，這些區(qū)域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如這個(gè)案例一樣，你需要從一個(gè)新的角度解析。例如在電腦芯片上進(jìn)行故障分析時(shí)，一根導(dǎo)線或者其他物體可能會(huì)將導(dǎo)致故障的錯(cuò)誤連接覆蓋住。或是統(tǒng)計(jì)特殊設(shè)計(jì)的合金顆粒，這些顆粒能提高發(fā)動(dòng)機(jī)部件或微型醫(yī)療工具的性能，由于表面粗糙結(jié)構(gòu)能將部分顆粒隱藏，使得統(tǒng)計(jì)結(jié)果不準(zhǔn)確。