近年來，隨著科技的發展和材料尺寸的不斷縮小，掃描電鏡（SEM）已經成為一種非常有價值的表征方法。SEM作為一種通用的工具，方便用戶可以對各種各樣的材料進行多種不同類型的分析。為獲得更好的結果，用戶應該仔細設定SEM參數。其中一個設置是束斑直徑，即照射在樣品上的電子束直徑。在這篇博客中，闡述了如何在SEM中調整束斑直徑，以及如何在高分辨率成像和大束流之間實現平衡，以獲得*結果。

如何在SEM下調整束斑直徑

描述SEM中電子束性質的四個主要參數如圖1所示:

1. 使電子在電鏡腔室中運動的加速電壓
2. 電子束的會聚角
3. 轟擊樣品的電子束流大小
4. 到達樣品表面的zui終束斑直徑。

圖1：SEM中電子束的四個主要參數：加速電壓、會聚角、電子束流和束斑直徑

在現代SEM中，用戶可以控制電子束的大小。這主要是通過調節系統的會聚鏡和物鏡，選擇不同大小的孔徑光闌來實現的。

電子流經電磁透鏡（由極靴內部的線圈組成），操作者可以通過調節加載在透鏡上的電流來控制電子的路徑。此外，束斑直徑取決于加速度電壓（高加速電壓減小斑點尺寸），工作距離（距離越大，束斑直徑越大），以及物鏡光闌（較小的光闌產生較小的束斑直徑）。

然而，實際上電子束斑的大小是一個控制和預測起來非常復雜的參數，因為它依賴于許多（相互關聯的）因素。描述束斑直徑涉及到電子槍的高斯直徑、末級光闌的衍射效應、色差和電磁透鏡引起的球面像差。

如果再看下圖1，為了在樣品試樣表面上有一個較小的束斑直徑和足夠的電流，用戶只需增加電子束的會聚角。然而，這將增加掃描電鏡中光學元件的像差，從而拓寬光束。因此，要想準確地進行實驗，必須了解不同的參數是如何影響電子束的特性，并權衡它們之間的利弊。

高分辨率成像與大束流

影響分辨率的主要因素是束斑直徑。為了獲得高分辨率的圖像，應該盡可能地保持更小的束斑直徑，以便能夠闡釋和描述樣品更小的特征。

另一方面，對于高信噪比和高對比度分辨率，電子束擁有足夠的束電流也是很重要的。由于減少了束斑大小的同時也減少了束電流，用戶需要判斷和選擇他們目標預期的設置。

一般來說，如果需要高倍率的圖像，那么束斑直徑的大小應該保持zui小。如果用戶只需要低放大率成像，那么就建議增加束斑直徑尺寸，這樣圖像就會產生更多的電子信號，看起來更清晰。

圖2，您可以觀察到在低放大率下獲得的圖像，但是較大的束斑直徑看起來更明亮和平滑。然而，隨著放大倍率的增加，當需要高分辨率成像時，用戶應該切換到較小的束斑直徑，以得到好的圖像。

此外，更大的束斑直徑——導致更大的電子束電流——增加了樣品的損害，這種現象應該被考慮進去，尤其是在對電子束敏感的樣品進行成像的時候。

圖2:錫球的SEM圖像a）大光斑b）小光斑。在左邊顯示的是低放大倍率圖像，顯示在右邊的是他們各自在高倍率放大下的圖像。在低倍率鏡下，采用大束流（a）。在高倍率放大圖像的情況下，使用較小的束斑直徑使用戶獲得更好的空間分辨率。

掃描電鏡是一種神奇的工具，有數不清的應用。然而，重要的一點是，操作者必須清楚地知道自己的需求——以及束斑直徑、電子束流和加速電壓是如何影響成像質量的。因此，為實驗選擇*參數是至關重要的。